赣州BLE射频测试

射频测试如何选择合适的探针？由于待测设备（DUT）的性质和构成非常敏感且通常较为精细，因此射频电路的测量往往是一项棘手任务。高可靠性射频测量中困扰多的两大问题是：频率太高时，当前测试设备无法进行射频能量的测量当待测电路对电气环境中的微小变化敏感时，测量中要求频率或幅度不发生扰动这些问题可通过采用对待测电路的能量扰动尽可能小的测量探针解决，其中，高阻抗探针中的放大器能够平衡待测电路的受扰能量。➤与测试射频的阻抗匹配在射频电路系统测试中，探针与测试设备的阻抗匹配对于能否实现有效的功率传输而言至关重要。然而，随着测试频率越来越高，以及对测试误差的要求越来越严格，上述阻抗匹配变得越来越困难。➤接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件在射频测试领域中，射频测试探针分为多种不同类型，如何选择合适的探针取决于对待接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件的考量。将来，射频探针需要具有测试更小焊盘及多个信道的设计能力，以及同时覆盖多种毫米波、射频、逻辑和功率信道测量范围的能力。射频测试是射频电流，它是一种高频交流变化电磁波的简称。赣州BLE射频测试

射频测试是产品研发生产过程中保障其通信质量的关键测试。常见的通信射频检测技术有两种，一种是通信射频传导测试，即通过射频发射端口直接引出射频线缆连接测试仪器直接测量，也叫通信射频直连测试。一种是OTA（Over The Air）测试，是通信设备的无线电射频信号质量通过整机辐射的方式进行测试。 OTA（Over The Air）“空口测试”是由CTIA（Cellular Telecommunication and Internet Association)早制定的射频测试相关标准，与射频传导测试相比，OTA测试将被测件的射频模组、天线、外壳等作为一个整体，着重进行整机辐射/接收性能测试，测试结果更接近产品实际使用性能。主要包括有源和无源无线通讯产品的测试，测试项目包含：全向辐射功率（TRP）、全向接收灵敏度（TIS）、整机2D/3D辐射方向图、天线增益（Gain）、天线效率等。赣州RFID射频测试方案射频测试探针通常与具有高口径定位机制或电子器件的探测设备一起使用。

手机消费市场竞争日趋激烈，射频测试越来越严格，在产品严重同质化的现在，除了从设计上寻求突破，产品品质也是各大厂商的另一个关注重点，具体到射频硬件部分，研发和生产阶段的精确射频测试是保障品质的重要手段。发射功率是手机发射机测试的重要指标之一，存在两面性，一方面手机需要发射足够高的功率以保证通信质量，另一方面在保证通信质量的前提下，发射功率越低越好，换言之，手机的发射功率需要根据实际情况被精确控制。接收灵敏度是接收机测试重要指标之一，也是衡量接收机接收能力的重要体现，必须精确测试。典型的手机射频测试系统由综测仪、测试夹具、待测手机（DUT）组成。测试夹具把综测仪和DUT连接起来，具有一定的插损，这个插损基本恒定不变。综测仪的发射功率和接收机测量都具有不确定度，仪器厂家给出的技术指标一般在0.5dB~1dB之间，重复性小于0.1dB，它们是一个统计特性，基于多台仪器、各种不同的工作条件下和测试场景下得出的。那么对特定某一台仪器，测试手机性能的不确定度是基本恒定的。夹具的插损和测试仪器的不确定度称为路径的系统损耗，可以通过校准来消除。

什么是射频？射频，英文名简称为RF，全称是RadioFrequency。RadioFrequency是无线电频率的意思。通常来讲，射频是指频率范围在300KHz~300GHz的高频电磁波。那什么是射频信号？通常来讲，电流通过导体，会形成磁场，交变电流通过导体，会形成电磁场，产生电磁波。频率低于100kHz的电磁波会被地表吸收，不能形成有效的传输。频率高于100kHz的电磁波可以在空气中传播，并经大气层外缘的电离层反射，具有远距离的传输能力，这种具有远距离传输能力的高频电磁波，我们称之为射频信号。测试仪表是射频测试领域技术含量比较高的设备。

射频测试项目其中包括：1.发射功率测试（传导法、辐射法）；2.发射瞬态功率测试；3.发射邻道与次邻道功率测试；4.发射宽带测试；5.发射频谱特性；6.发射频率误差相位误差；7.发射杂散测试（传导法、辐射法）；8.接收比较大可用灵敏度；9.接受邻近通道选择；10.接收信号阻塞；11.接收同信道抑制；12.接收杂散响应抑制；13.接收互调响应抑制；14.SAR测试。RF测试办理要求：1、低电压的条件下工作频率误差不超过±10ppm,且发射功率在杂散限制范围内；2、停止发射电压需低于制造商宣告的工作电压。射频测试探针主要应用场景：射频和微波模块信号检测和输出；高频电路板电气性能分析；高速数字电路分析。广州智能手表射频灵敏度测试

LTE 终端射频测试项目分为4 大部分，即发射机指标、接收机指标、性能要求、信道状态信息上报。赣州BLE射频测试

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分：测试仪器接口（同轴或是波导）从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导（CPW/MS等）转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。赣州BLE射频测试

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